微流控芯片的分離物檢測方法介紹
更新時(shí)間：2021-04-29 點擊次數：1283
微流控芯片的微結構制作(zuò)及鍵合封接完成後，需對(duì)微結構的形狀、尺寸和(hé)表面粗糙度進行檢測。目前常用(yòng)的儀器有：表面輪廓儀和(hé)可标定的光學顯微鏡，可以給出微結構的表面輪廓和(hé)截面形狀，并由此推算(suàn)出微結構的深度和(hé)寬度尺寸;掃描電子顯微鏡(SEM)可以給出微結構的立體形貌和(hé)截面形狀，并可推算(suàn)出尺寸參數;使用(yòng)原子力顯微鏡(AFM)，可對(duì)微結構的表面粗糙度進行觀測。
微流控芯片的分離物檢測方法
分離物的高(gāo)靈敏度檢測對(duì)于微流控芯片有着重要意義。目前，微流控芯片的檢測方法大(dà)體上(shàng)可以分爲3類：光學檢測、電化學檢測及質譜學檢測。
紫外(wài)吸收檢測法是一種常規光學檢測法，相應的檢測器已經趨于成熟，但(dàn)由于芯片的通道(dào)小(xiǎo)、靈敏度不高(gāo)，因此該方法已經不能(néng)夠滿足對(duì)低(dī)濃度和(hé)極微量樣品分析的要求。激光誘導熒光檢測是所有熒光檢測中靈敏度*高(gāo)的一種方法。多數情況下(xià)其檢測下(xià)限可達10E-10—10E-12mol/L，所以該方法得到(dào)了(le)廣泛的應用(yòng)。
電化學檢測有安培法、電導法和(hé)電位法3種基本模式，其中安培法是應用(yòng)普遍的一種方法。其基本原理(lǐ)是：測量化合物在電極表面受到(dào)氧化或還原反應時(shí)，會(huì)失去或得到(dào)電子，産生與分析物濃度成正比的電極電流，通過測量微通道(dào)中的電流即可得到(dào)溶液濃度的變化情況。電化學檢測的靈敏度可以與熒光檢測相媲美(měi)，同時(shí)，因爲微電極可以加工(gōng)到(dào)芯片上(shàng)，因此更适合于微芯片的檢測。
質譜檢測的原理(lǐ)是根據分子質荷比的不同而達到(dào)檢測的目的。其優點是能(néng)夠提供分子空(kōng)間結構信息，因此在生物大(dà)分子(如蛋白(bái)質)的結構研究方面具有獨到(dào)之處。但(dàn)因爲質譜檢測系統本身比芯片還要大(dà)，所以也(yě)很(hěn)難實現(xiàn)整個系統的微型化。單一的檢測方法将很(hěn)難完成全部檢測任務，因此應對(duì)多種檢測方法的聯合使用(yòng)及新的檢測方法進行研究。
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