薄膜測厚儀，又稱爲測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業适用(yòng)于量程範圍内的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙(zhǐ)張、箔片、矽片等各種材料的厚度精确測量。
薄膜測厚儀的技術特點介紹
嚴格按照标準設計(jì)的接觸面積和(hé)測量壓力，同時(shí)支持各種非标定制
測試過程中測量頭自(zì)動升降，有效避免了(le)人爲因素造成的系統誤差
支持自(zì)動和(hé)手動兩種測量模式，方便用(yòng)戶自(zì)由選擇
實時(shí)顯示測量結果的*大(dà)值、*小(xiǎo)值、平均值以及标準偏差等分析數據，方便用(yòng)戶進行判斷
配置标準量塊用(yòng)于系統标定，保證測試的精度和(hé)數據一緻性
系統支持數據實時(shí)顯示、自(zì)動統計(jì)、打印等許多實用(yòng)功能(néng)，方便快(kuài)捷地獲取測試結果
系統由微電腦(nǎo)控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和(hé)PVC操作(zuò)面闆，方便用(yòng)戶進行試驗操作(zuò)和(hé)數據查看(kàn)
支持Lystem™實驗室數據共享系統，統一管理(lǐ)試驗結果和(hé)試驗報(bào)告
标準的RS232接口，便于系統的外(wài)部連接和(hé)數據傳輸
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