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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型号:

    浏覽量:1770

    薄膜測厚儀采用(yòng)光譜幹涉原理(lǐ)進行測量,具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點,可在真空(kōng)環境使用(yòng);可與大(dà)行程工(gōng)件台配合,實現(xiàn)大(dà)面積膜厚自(zì)動測量。
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  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型号:

    浏覽量:1742

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀,基于白(bái)光幹涉掃描原理(lǐ),以光波長作(zuò)爲測量基準,利用(yòng)納米級高(gāo)精度掃描系統結合具有自(zì)主知(zhī)識産權的高(gāo)精度解析算(suàn)法,實現(xiàn)連續或台階突變微納結構表面三維形貌重構,由此獲得待測物體三維形貌、表面紋理(lǐ)、微觀尺寸等各類外(wài)觀參數測量結果。
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