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不了(le)解基礎參數,怎麽能(néng)用(yòng)好(hǎo)薄膜測厚儀?

更新時(shí)間:2022-07-18      點擊次數:648
  随着科技的發展,近年來(lái),薄膜的市場需求不斷增加。薄膜的厚度是産品的重要物理(lǐ)指标之一,它直接影響産品的産量、質量、經濟效益和(hé)生産成本。薄膜厚度測量也(yě)是薄膜制造業的基本檢測項目之一。薄膜測厚儀采用(yòng)顯微光譜法測量小(xiǎo)範圍内的反射率,可進行高(gāo)精度的膜厚/光學常數分析。
  
  塗膜的厚度可以采用(yòng)無損、非接觸的方式進行測量,如各種薄膜、晶片、光學材料和(hé)多層薄膜等。測量時(shí)間方面,可實現(xiàn)1秒/點的高(gāo)速測量,配備的軟件即使是初次使用(yòng)也(yě)能(néng)輕松分析光學常數。
  
 

薄膜測厚儀
 

 

  雖然薄膜測厚儀在使用(yòng)中可以起到(dào)高(gāo)精度的測厚作(zuò)用(yòng),但(dàn)這(zhè)一切都需要建立在正确操作(zuò)的條件下(xià)。如果操作(zuò)方式錯誤,後果很(hěn)嚴重。不僅不能(néng)保證測量數據的準确性,還會(huì)造成測厚儀的損壞,影響車身後期的測試性能(néng)。可見,正确使用(yòng)膜厚儀很(hěn)重要。
  
  不了(le)解基礎參數,怎麽能(néng)用(yòng)好(hǎo)薄膜測厚儀?基本參數方面主要包括測量原理(lǐ)、測量範圍、測量誤差、數據存儲、統計(jì)值、最小(xiǎo)曲率半徑、最小(xiǎo)測量面積、最小(xiǎo)基材厚度、被測物體材料重量、薄膜測厚儀尺寸、等等這(zhè)些(xiē)數據雖然在産品說明(míng)書或者設備标識闆上(shàng)都有展示,但(dàn)是做好(hǎo)初步的基礎了(le)解是非常有必要的。如果事(shì)先不知(zhī)道(dào),在正式操作(zuò)中看(kàn),一般是趕不上(shàng)的,但(dàn)實際情況會(huì)很(hěn)倉促。以測量原理(lǐ)爲例,需要針對(duì)不同的被測對(duì)象确定合适的測量原理(lǐ),如磁感應原理(lǐ)或渦流效應原理(lǐ)。如果一開(kāi)始沒有正确選擇測量原理(lǐ),那麽下(xià)面的操作(zuò)就會(huì)一步步出錯。
  
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